產(chǎn)品介紹

卷邊反射面更適于高精度，低副瓣的天線(xiàn)和RCS測量。

ALB-CATR 系列是安特磊博針對天線(xiàn)和RCS的緊縮場(chǎng)測量系統，能為天線(xiàn)和毫米波雷達測試設計搭建實(shí)驗環(huán)境。 主要應用于各種天線(xiàn)和器件的增益、極化、軸比的測量，還包括汽車(chē)雷達及其組件測試，毫米波軍用/警用雷達產(chǎn)品測試，民用毫米波天線(xiàn)測試（毫米波反射面天線(xiàn)、5G毫米波通信天線(xiàn)）。
ALB-CATR系列適用于各種毫米波雷達測試，系統采用整體式卷邊反射面表面精度＜5-30um（RMS），相較常規鋸齒反射面更加節省空間。同時(shí)采用偏置饋源設計，同時(shí)適用于有源和無(wú)源測試，會(huì )在一定的縱向距離內形成一個(gè)橢圓狀靜區空間，使用網(wǎng)絡(luò )分析儀或頻譜分析儀及對應的擴頻組件，均可進(jìn)行（有源/無(wú)源）測試。配備多維承物轉臺，根據用戶(hù)需要定制測試工裝和電動(dòng)輔助軸,可自由選擇當下所需要測試的截面。使用需搭配全屏蔽無(wú)反射微波暗室，配備可調饋源夾具及對應頻段波紋喇叭饋源。同時(shí)兼備可移動(dòng)式基座，方便用戶(hù)安置及部署。

適用對象:
1. 各種天線(xiàn)和RCS測量;
2. 雷達;
3. 毫米波探測裝置.

測試模式:  適用有源/無(wú)源
適用被測物尺寸: ≤設計靜區尺寸

測試配置 :
1. 無(wú)源測試使用網(wǎng)絡(luò )分析儀及對應的擴頻組件
2. 有源測試使用頻譜分析儀及對應的擴頻組件

ALB-CATR
測試能力
頻率范圍：0.3GHz~ 110/200/500GHz；
靜區幅度錐削：≤±1dB
靜區幅度起伏：≤±1dB
靜區相位總變化：≤±5°到≤±10°
反射面投影尺寸：0.3m/1m/2m......各種尺寸
反射面精度（RMS）：<5-30um
測試范圍：天線(xiàn)（模塊）的輻射性能和飛機的RCS；
測試項目：（1）被測物有源/無(wú)源方向圖    （2）被測物有源及無(wú)源增益    （3）交叉極化分辨率
（4） 各類(lèi)移動(dòng)標準通信制式     （5）雷達目標模擬                   （6）RCS測試  （7）方向圖

系統配置
整體式卷邊反射面表面精度＜5-30um（RMS），相較常規鋸齒反射面更加節省空間；
一維承物轉臺，可根據用戶(hù)需要定制測試工裝和電動(dòng)輔助軸；
全屏蔽無(wú)反射微波暗室；
可調饋源夾具及對應頻段波紋喇叭饋源；
可移動(dòng)式基座，方便用戶(hù)安置及部署；

系統參數
根據用戶(hù)對不同靜區尺寸的需求可以提供1米~50米投影口徑的反射面供選擇，可以提供0.5米~25米的靜區。

北京安特磊博科技有限公司推出：

緊縮場(chǎng)頻率范圍：0.3-500GHz

0.3m，0.6m，1m，2m，5m，6m，20m等緊縮場(chǎng)暗室。

靜區：0.15/0.3/0.5/0.8/1/2.5/3/10m等各種靜區。

邊緣加工方式：卷邊和鋸齒，兩種處理方式。

緊縮場(chǎng)反射面具有高剛度重量比

高溫度系數

振幅taper ：1dB

振幅波動(dòng)：正負0.5dB

相位：正負5度（小于40GHz）

ALB-AS-05300-1.5

150*150

90*90

2-5-300

1dB

+/-0.5dB

＜100

30

ALB-AS-04110-0.9	90*90	30*30	4-110	1dB	+/-0.5dB	<100	30
ALB-AS-03110-1.5	150*150	70*70	3-110	1dB	+/-0.5dB	<100	30
ALB-AS-03110-2.4	240*240	100*100	3-110	1dB	+/-0.5dB	<100	30

還有 汽車(chē)雷達專(zhuān)用的緊縮場(chǎng)主面，頻率20-77GHz，0.3m口徑，測試15cm以?xún)鹊母鞣N汽車(chē)雷達天線(xiàn)。

正在加工中的1m卷邊緊縮場(chǎng)主面